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“PPID”是“Plasma Process Induced Damage”的缩写,意思是“等离子体过程引起的损伤”

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英语缩略词“PPID”经常作为“Plasma Process Induced Damage”的缩写来使用,中文表示:“等离子体过程引起的损伤”。本文将详细介绍英语缩写词PPID所代表英文单词,其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外,还有关于缩略词PPID的分类、应用领域及相关应用示例等。

“PPID”(“等离子体过程引起的损伤)释义

  • 英文缩写词:PPID
  • 英文单词:Plasma Process Induced Damage
  • 缩写词中文简要解释:等离子体过程引起的损伤
  • 中文拼音:děng lí zǐ tǐ guò chéng yǐn qǐ de sǔn shāng
  • 缩写词流行度:16418
  • 缩写词分类:Miscellaneous
  • 缩写词领域:Unclassified

以上为Plasma Process Induced Damage英文缩略词PPID的中文解释,以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。

英文缩略词PPID的扩展资料

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    MOS器件中的等离子损伤

上述内容是“Plasma Process Induced Damage”作为“PPID”的缩写,解释为“等离子体过程引起的损伤”时的信息,以及英语缩略词PPID所代表的英文单词,其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。

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