英语缩略词“KFM”经常作为“Kelvin Force Microscopy”的缩写来使用，中文表示：“开尔文力显微镜”。本文将详细介绍英语缩写词KFM所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词KFM的分类、应用领域及相关应用示例等。
“KFM”（“开尔文力显微镜）释义
- 英文缩写词：KFM
- 英文单词：Kelvin Force Microscopy
- 缩写词中文简要解释：开尔文力显微镜
- 中文拼音：kāi ěr wén lì xiǎn wēi jìng
- 缩写词流行度：8497
- 缩写词分类：Miscellaneous
- 缩写词领域：Unclassified
以上为Kelvin Force Microscopy英文缩略词KFM的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
英文缩略词KFM的扩展资料
-
The contact potential difference ( CPD ) at the boundary of the electrode and substrate in ZnO film is measured using Kelvin probe force microscopy ( KFM ) and the relationship between measured CPD and scanning speed is studied.
本文利用开尔文力显微镜(KFM)观测了ZnO薄膜上ZnO/Si台阶处的接触电势差，研究了扫描速度对接触电势差检测的影响，并分析了造成这种影响的原因。
-
Kelvin Probe Force Microscopy for Contact Potential Difference Measurement of ZnO Film
开尔文力显微镜(KFM)检测ZnO薄膜的接触电势差
上述内容是“Kelvin Force Microscopy”作为“KFM”的缩写，解释为“开尔文力显微镜”时的信息，以及英语缩略词KFM所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。
