英语缩略词“DEM”经常作为“Defect Estimation Model”的缩写来使用，中文表示：“缺陷估计模型”。本文将详细介绍英语缩写词DEM所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词DEM的分类、应用领域及相关应用示例等。
“DEM”（“缺陷估计模型）释义
- 英文缩写词：DEM
- 英文单词：Defect Estimation Model
- 缩写词中文简要解释：缺陷估计模型
- 中文拼音：quē xiàn gū jì mó xíng
- 缩写词流行度：559
- 缩写词分类：Academic & Science
- 缩写词领域：Electronics
以上为Defect Estimation Model英文缩略词DEM的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
英文缩略词DEM的扩展资料
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In this paper, the lifetime model of IC interconnect is discussed, the effect of the missing metal defect and the random disturbance of IC etching process to the width of interconnect is analyzed, and a new estimation model of interconnect lifetime is presented.
文中讨论了电路的互连线的寿命模型，分析了丢失物缺陷以及刻蚀工艺的扰动对互连线宽度的影响，提出了新的互连线寿命估计模型。
上述内容是“Defect Estimation Model”作为“DEM”的缩写，解释为“缺陷估计模型”时的信息，以及英语缩略词DEM所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。
