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“SEM”是“Standard Error of Measurement”的缩写,意思是“标准测量误差”

学术与科学类作者 AOETC

英语缩略词“SEM”经常作为“Standard Error of Measurement”的缩写来使用,中文表示:“标准测量误差”。本文将详细介绍英语缩写词SEM所代表英文单词,其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外,还有关于缩略词SEM的分类、应用领域及相关应用示例等。

“SEM”(“标准测量误差)释义

  • 英文缩写词:SEM
  • 英文单词:Standard Error of Measurement
  • 缩写词中文简要解释:标准测量误差
  • 中文拼音:biāo zhǔn cè liáng wù chā
  • 缩写词流行度:858
  • 缩写词分类:Academic & Science
  • 缩写词领域:Physics

以上为Standard Error of Measurement英文缩略词SEM的中文解释,以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。

英文缩略词SEM的扩展资料

  1. Their amplitudes of from maximum to minimum reach several tens to 100-200 millivolts / km ( exceed the average standard error of measurement by 6-20 times ).
    其双振幅每公里达数十乃至一、二百毫伏(超过平时观测标准误差6&20倍);
  2. The standard error of single station measurement of earthquake magnitude is about 0.21-0.23, utilizing the new calibration function and the corrections of site condition.
    用这四个量规函数加上台基校正,求得的单台震级的标准误差为0.21&0.23级。
  3. Analysis of the Effect of Minitype Area Shape Standard on the Error of Environment Noise Measurement
    小型区域形状规整性对环境噪声测量误差的影响分析
  4. By combining with the HP laser interferometer, the standard error and repeatability of probe is calibrated in different measurement ranges. From these calibration results, the probe is adaptive to achieve micro / nano measurment for the 3D profile of microcomponent.
    结合HP激光干涉仪对测头不同测量范围的标准差与重复性进行校正测量,由校正的结果分析,此测头系统可实现微器件表面3D形貌的微/纳米测量。
  5. The sensor's standard deviation in length measurement is 36? μ m, and the relative error of angular measurement is ( 0.2 % ) compared with the CMM ( coordinate measuring machine ).
    该系统长度测量标准差为36μm,角度测量与坐标测量机(CMM)测量结果的相对误差0.2%.给出了某V型面三维实测的数据重建结果。

上述内容是“Standard Error of Measurement”作为“SEM”的缩写,解释为“标准测量误差”时的信息,以及英语缩略词SEM所代表的英文单词,其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。

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