“SIMS”是“Secondary Ion Mass Spectrometry”的缩写，意思是“二次离子质谱法”

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英语缩略词“SIMS”经常作为“Secondary Ion Mass Spectrometry”的缩写来使用，中文表示：“二次离子质谱法”。本文将详细介绍英语缩写词SIMS所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词SIMS的分类、应用领域及相关应用示例等。

“SIMS”（“二次离子质谱法）释义

以上为Secondary Ion Mass Spectrometry英文缩略词SIMS的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。

Secondary ion mass spectrometry
次级离子质谱分析法
The technique, called secondary ion mass spectrometry, was developed to detect trace amounts of volatile gases such as chlorine and fluorine in Earth soil samples.
这项技术叫做次级离子质谱法（SIMS），本来是用来检测地球样土中氯、氟等微量挥发性气体的。
Testing method for oil separation of lubricating greases secondary ion mass spectrometry
润滑脂的油分离测定法次级离子质谱分析法
Time-of-Flight secondary ion mass spectrometry ( TOF-SIMS ) is a very sensitive surface analytical technique, well established for many industrial and research applications.
飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面检测技术。
Secondary ion mass spectrometry The five-category assets classification for bank loans
次级离子质谱分析法贷款质量五级分类办法

上述内容是“Secondary Ion Mass Spectrometry”作为“SIMS”的缩写，解释为“二次离子质谱法”时的信息，以及英语缩略词SIMS所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。

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