英语缩略词“SIMS”经常作为“Secondary Ion Mass Spectroscopy”的缩写来使用，中文表示：“二次离子质谱”。本文将详细介绍英语缩写词SIMS所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词SIMS的分类、应用领域及相关应用示例等。
“SIMS”（“二次离子质谱）释义
英文缩写词：SIMS
英文单词：Secondary Ion Mass Spectroscopy
缩写词中文简要解释：二次离子质谱
中文拼音：èr cì lí zǐ zhì pǔ
缩写词流行度：884
缩写词分类：Academic & Science
缩写词领域：Electronics
以上为Secondary Ion Mass Spectroscopy英文缩略词SIMS的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
英文缩略词SIMS的扩展资料
Study of Quantitative Analysis of Vanadium in SiC by Secondary Ion Mass Spectroscopy(SIMS); any of several toxic or carcinogenic hydrocarbons that occur as impurities in herbicides. 二次离子质谱(SIMS)分析碳化硅中钒杂质含量的研究一些有毒或致癌的碳氢化合物，除草剂中的杂质。
Deuterium oxide absorption distribution was measured by time of flight secondary ion mass spectroscopy ( ToF-SIMS ). 采用飞行时间次级离子质谱分析法（TOF-SIMS）来测量重水吸收性分布。
An experiment was conducted to study the high-temperature annealing characteristics of polysilicon films using atomic force microscope, secondary ion mass spectroscopy and probe. 利用原子力显微镜、二次离子质谱(SIMS)分析仪和探针，对多晶硅薄膜的高温退火特性进行了实验研究。
Investigating progress of hydrogen release during plastic deformation and hydrogen diffusivity under high vacuum, hydrogen distribution in hulks and hydride formation at crack tips, hydrogen segregation at grain boundaries and quantitative hydrogen analysis have been presented using Secondary Ion Mass Spectroscopy(SIMS) ( SIMS ). 本文介绍了二次离子质谱(SIMS)技术对于塑性形变过程中氢释放和高真空下氢扩散率，体内氢分布和裂尖氢化物形成，晶界氢偏析和定量氢分析等方面的研究进展。
The enhanced adhesion of Cu films on Si substrates under MeV Cl ion beam irradiation was studied through analysis of Scanning Auger Microprobe ( SAM ) and Secondary Ion Mass Spectroscopy(SIMS) ( SIMS ). 本文通过用扫描俄歇微探针（SAM）和二次离子质谱(SIMS)（SIMS）分析了高能氯离子注入Cu／Si系统，对Cu薄膜附着力增强效应进行了研究。
上述内容是“Secondary Ion Mass Spectroscopy”作为“SIMS”的缩写，解释为“二次离子质谱”时的信息，以及英语缩略词SIMS所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。
