“DUT”是“Device Under Test”的缩写，意思是“被测设备”

英语缩略词“DUT”经常作为“Device Under Test”的缩写来使用，中文表示：“被测设备”。本文将详细介绍英语缩写词DUT所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词DUT的分类、应用领域及相关应用示例等。

“DUT”（“被测设备）释义

以上为Device Under Test英文缩略词DUT的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。

The intelligent interface isolates the test signals provided by DUT ( device under test ) successfully.
智能接口成功地解决了对测试对象提供的检测信号的相互隔离；
Request the contents of Modbus registers on the device under test through standard Modbus commands.
通过标准的Modbus命令请求测试设备上的Modbus寄存器的内容。
Set the serial port connecting the host to the device under test.
将连接主机的串口设置为接受测试的设备。
The offset voltage will cause an error in the applied stimulus to a device under test or the value measured by the voltmeter.
偏移电压会导致施加到被测装置的激励发生误差，或者使伏特计的测量值发生误差。
If high voltage is used, current limiting resistors are needed to avoid damage to the current switches in case the device under test breaks down.
如果使用高压，则需要利用限流电阻，以免被测装置击穿后损坏电流开关。

上述内容是“Device Under Test”作为“DUT”的缩写，解释为“被测设备”时的信息，以及英语缩略词DUT所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。

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