“DFT”是“Design For Testability”的缩写，意思是“可测试性设计”

英语缩略词“DFT”经常作为“Design For Testability”的缩写来使用，中文表示：“可测试性设计”。本文将详细介绍英语缩写词DFT所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词DFT的分类、应用领域及相关应用示例等。

“DFT”（“可测试性设计）释义

以上为Design For Testability英文缩略词DFT的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。

As a new method of design for testability build-in self-test can prominently improve the testability of the circuits.
内建自测试作为一种新的可测性设计方法，能显著提高电路的可测性。
Design for Testability : to test the design.
可测性设计：有利于测试的设计。
Design for Testability and Implement Technology in ASIC Design
ASIC集成电路的可测性设计与技术实现
Diagnostic strategy design is an important task in the design for testability ( DFT ).
诊断策略优化设计是测试性设计中的一项重要内容。
Research on Design for Testability and Test Algorithm of Embedded Memory
嵌入式存储器的可测性设计及测试算法研究

上述内容是“Design For Testability”作为“DFT”的缩写，解释为“可测试性设计”时的信息，以及英语缩略词DFT所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。

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