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“AEM”是“Analytical Electron Microscopy”的缩写,意思是“分析电子显微镜”

学术与科学类作者 AOETC

英语缩略词“AEM”经常作为“Analytical Electron Microscopy”的缩写来使用,中文表示:“分析电子显微镜”。本文将详细介绍英语缩写词AEM所代表英文单词,其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外,还有关于缩略词AEM的分类、应用领域及相关应用示例等。

“AEM”(“分析电子显微镜)释义

  • 英文缩写词:AEM
  • 英文单词:Analytical Electron Microscopy
  • 缩写词中文简要解释:分析电子显微镜
  • 中文拼音:fēn xī diàn zǐ xiǎn wēi jìng
  • 缩写词流行度:3001
  • 缩写词分类:Academic & Science
  • 缩写词领域:Electronics

以上为Analytical Electron Microscopy英文缩略词AEM的中文解释,以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。

英文缩略词AEM的扩展资料

  1. The fine scale microstructure of powder metallurgy high speed steels has been investigated by using analytical electron microscopy.
    应用分析电子显微术对粉末冶金高速钢的精细结构进行了研究。
  2. Defects in photorefractive BaTiO_3 crystal, obtained by the top seed solution growth method, have been studied by analytical electron microscopy.
    用分析电子显微镜(AEM)研究了顶部籽晶法生长的BaTiO3晶体内的缺陷。
  3. Analytical electron microscopy of defects in photorefractive batio_3 crystal
    光折变BaTiO3晶体缺陷的分析电子显微镜(AEM)研究
  4. After a subsequent annealing, the final crystalline products were preliminarily characterized by X-ray diffractometry and then analytical electron microscopy. High resolution lattice images were recorded by JEOL JEM 200 OX electron microscope.
    用X射线衍射和分析电子显微镜(AEM)进行研究,并用高分辨电子显微镜观察,由JEOLJEM200CX获得晶格象照片。
  5. The analysis on the lattice mismatch, chemical composition distribution and interplanar spacing of { 111 } in the specimens by analytical electron microscopy has been carried out.
    通过对量子点高分辨像显示的晶格错配和化学成分分析研究,解释了所研究样品中量子点尺寸逐层增大的现象。

上述内容是“Analytical Electron Microscopy”作为“AEM”的缩写,解释为“分析电子显微镜”时的信息,以及英语缩略词AEM所代表的英文单词,其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。

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